SJ/T 11845.2-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件

本文件规定了用于光电耦合器件(以下简称器件）可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。
本文件适用于输出端为两端口的器件，包括光敏二极管输出型器件、光敏晶体管输出型器件、光敏达林顿管输出型器件、光电池输出型器件、光控晶闸管输出型器件。